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二次离子质谱

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溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪

发布时间:2017-11-20 00:00

仪器简介:

溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪(Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS) 

SIRIS分析步骤:

1、通过能量强大的离子束,解吸附和雾化(分离成原子)样品的一小部分(溅射)。

2、在溅射过程中抑制离子形成。

3、溅射中性粒子的选择性激光电离(共振电离光谱)。

4、离子的飞行时间质谱分析。



技术参数:

溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪(Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS)技术特点: 

1、激光系统包括Nd:YAG激光泵的二波长可调激光器。

2、标准系统包括可选择微焦点离子枪(50 m光斑尺寸)或液态金属离子枪(100nm光斑尺寸);两种离子枪都配作为一个选项。 x, y, z,  四维样品操纵器,X、Y方向上的精度为亚微米级。

3、16方位轮播样品台。

4、静电分析仪,从根本上消除了由于非选择性表面电离的影响。

5、组合微通道板-闪烁器-光电倍增管,可获得高增益检测与极好的脉冲高度分布。

6、一周的仪器操作培训和SIRIS数据分析培训。



主要特点:

溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪(Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer  SIRIS-TOFMS)

是一种新型微区定量高灵敏分析仪器。它集离子溅射、共振电离与飞行时间质港等技术于一体,由于具有高电离效率、高灵敏性、高选择性、适用范围广以及基体效应小等特点,可以实现复杂样品微区微量成份的定量分析。

广泛应用于核物理、地质、矿产、钢铁、半导体材料、环境等许多领域。

我公司有超过25年的SIRIS研究和仪器化的经验,提供完整的SIRIS仪器,目前已经向全世界各个国家的科研机构提供了几十台SIRIS-TOFMS仪器。

 

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